日本分光株式会社

商標　2014082746

2014年10月01日

商標コード: 37
建設、設置工事及び修理

表示用商標

Ｊａｓｃｏ

特許　2014079391

2014年04月08日

特許分類: G01N 35/00
測定; 試験
テーマコード: 2G058

発明の名称

分析装置

特許　2014079391

2014年04月08日

特許分類: G01N 35/00 A
測定; 試験
テーマコード: 2G058

発明の名称

分析装置

特許　2014079391

2014年04月08日

特許分類: G01N 35/00 E
測定; 試験
テーマコード: 2G058

発明の名称

分析装置

特許　2014079391

2014年04月08日

特許分類: G01N 35/00 F
測定; 試験
テーマコード: 2G058

発明の名称

分析装置

特許　2014188097

2014年09月16日

特許分類: G01N 35/00
測定; 試験
テーマコード: 2G058

発明の名称

分析システム

特許　2014188097

2014年09月16日

特許分類: G01N 35/00 E
測定; 試験
テーマコード: 2G058

発明の名称

分析システム

特許　2014188097

2014年09月16日

特許分類: G01N 35/00 F
測定; 試験
テーマコード: 2G058

発明の名称

分析システム

特許　2014211573

2014年10月16日

特許分類: G01Q 60/22
測定; 試験
テーマコード: 2G580

発明の名称

微細構造測定用プローブおよび微細構造測定装置

特許　2014211573

2014年10月16日

特許分類: G01Q 60/22 101
測定; 試験
テーマコード: 2G580

発明の名称

微細構造測定用プローブおよび微細構造測定装置

特許　2014211573

2014年10月16日

特許分類: G01Q 60/36
測定; 試験
テーマコード: 2G580

発明の名称

微細構造測定用プローブおよび微細構造測定装置

特許　2014211574

2014年10月16日

特許分類: G01B 11/00
測定; 試験
テーマコード: 2G580

発明の名称

近接場測定方法および近接場光学顕微鏡

特許　2014211574

2014年10月16日

特許分類: G01B 11/00 H
測定; 試験
テーマコード: 2G580

発明の名称

近接場測定方法および近接場光学顕微鏡

特許　2014211574

2014年10月16日

特許分類: G01Q 20/00
測定; 試験
テーマコード: 2G580

発明の名称

近接場測定方法および近接場光学顕微鏡

特許　2014211574

2014年10月16日

特許分類: G01Q 60/18
測定; 試験
テーマコード: 2G580

発明の名称

近接場測定方法および近接場光学顕微鏡

特許　2015062307

2015年03月25日

特許分類: G01N 21/27
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

顕微分光装置

特許　2015062307

2015年03月25日

特許分類: G01N 21/27 E
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

顕微分光装置

特許　2015062307

2015年03月25日

特許分類: G01N 21/64
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

顕微分光装置

特許　2015062307

2015年03月25日

特許分類: G01N 21/64 E
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

顕微分光装置

特許　2015062307

2015年03月25日

特許分類: G01N 21/65
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

顕微分光装置

特許　2015062308

2015年03月25日

特許分類: G01N 21/65
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

顕微分光装置

特許　2016063294

2016年03月28日

特許分類: G01N 21/3563
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

全反射吸収スペクトル測定用光学器具、および、測定装置

特許　2016063294

2016年03月28日

特許分類: G01N 21/552
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

全反射吸収スペクトル測定用光学器具、および、測定装置

特許　2016186816

2016年09月26日

特許分類: G02B 21/00
光学
テーマコード: 2H052

発明の名称

共焦点ラマン顕微鏡

特許　2017092438

2017年05月08日

特許分類: G01N 21/19
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

スペクトルの判定装置および判定方法

特許　2017092438

2017年05月08日

特許分類: G01N 21/27
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

スペクトルの判定装置および判定方法

特許　2017092438

2017年05月08日

特許分類: G01N 21/27 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

スペクトルの判定装置および判定方法

特許　2017161341

2017年08月24日

特許分類: G01N 21/27
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

機械学習を用いた未知化合物の分類方法

特許　2017161341

2017年08月24日

特許分類: G01N 21/27 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

機械学習を用いた未知化合物の分類方法

特許　2017161341

2017年08月24日

特許分類: G06N 3/08
計算; 計数
テーマコード: 2G059

発明の名称

機械学習を用いた未知化合物の分類方法

特許　2017565621

2017年02月02日

特許分類: G01J 3/45
測定; 試験
テーマコード: 2G020

発明の名称

フーリエ変換型分光装置を用いたスペクトル測定方法

特許　2018031529

2018年02月26日

特許分類: G01J 4/04
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

位相差制御装置

特許　2018031529

2018年02月26日

特許分類: G01J 4/04 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

位相差制御装置

特許　2018242090

2018年12月26日

特許分類: G01N 30/02
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

試料注入装置

特許　2018242090

2018年12月26日

特許分類: G01N 30/02 N
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

試料注入装置

特許　2018242090

2018年12月26日

特許分類: G01N 30/20
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

試料注入装置

特許　2018242090

2018年12月26日

特許分類: G01N 30/20 A
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

試料注入装置

特許　2018242090

2018年12月26日

特許分類: G01N 30/26
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

試料注入装置

特許　2018242090

2018年12月26日

特許分類: G01N 30/26 M
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

試料注入装置

特許　2019048490

2019年03月15日

特許分類: G01J 4/04
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置および円二色性測定方法

特許　2019048490

2019年03月15日

特許分類: G01J 4/04 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置および円二色性測定方法

特許　2019048490

2019年03月15日

特許分類: G01N 21/19
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置および円二色性測定方法

特許　2019072504

2019年04月05日

特許分類: B01J 20/291
物理的または化学的方法または装置一般
テーマコード: 2G059

発明の名称

示差屈折率の測定方法、測定装置、および、測定プログラム

特許　2019072504

2019年04月05日

特許分類: G01N 21/41
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

示差屈折率の測定方法、測定装置、および、測定プログラム

特許　2019072504

2019年04月05日

特許分類: G01N 21/41 B
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

示差屈折率の測定方法、測定装置、および、測定プログラム

特許　2019072504

2019年04月05日

特許分類: G01N 30/74
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

示差屈折率の測定方法、測定装置、および、測定プログラム

特許　2019072504

2019年04月05日

特許分類: G01N 30/74 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

示差屈折率の測定方法、測定装置、および、測定プログラム

特許　2019513571

2018年04月11日

特許分類: G01N 21/552
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

全反射光学部材およびこれを備えた全反射測定装置

特許　2019513571

2018年04月11日

特許分類: G02B 5/04
光学
テーマコード: 2G059

発明の名称

全反射光学部材およびこれを備えた全反射測定装置

特許　2019513571

2018年04月11日

特許分類: G02B 21/06
光学
テーマコード: 2G059

発明の名称

全反射光学部材およびこれを備えた全反射測定装置

特許　2010093089

2010年04月14日

特許分類: G01N 11/00
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

紫外線硬化樹脂の物性測定装置

特許　2010093089

2010年04月14日

特許分類: G01N 11/00 G
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

紫外線硬化樹脂の物性測定装置

特許　2010093089

2010年04月14日

特許分類: G01N 21/27
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

紫外線硬化樹脂の物性測定装置

特許　2010093089

2010年04月14日

特許分類: G01N 21/27 C
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

紫外線硬化樹脂の物性測定装置

特許　2010093089

2010年04月14日

特許分類: G01N 21/35
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

紫外線硬化樹脂の物性測定装置

特許　2010093089

2010年04月14日

特許分類: G01N 21/35 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

紫外線硬化樹脂の物性測定装置

特許　2010101406

2010年04月26日

特許分類: G01N 21/64
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

分光測定方法、分光測定装置

特許　2010101406

2010年04月26日

特許分類: G01N 21/64 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

分光測定方法、分光測定装置

特許　2010101406

2010年04月26日

特許分類: G01N 21/65
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

分光測定方法、分光測定装置

特許　2010101406

2010年04月26日

特許分類: G02B 6/032
光学
テーマコード: 2G043

発明の名称

分光測定方法、分光測定装置

特許　2010101406

2010年04月26日

特許分類: G02B 6/20 Z
光学
テーマコード: 2G043

発明の名称

分光測定方法、分光測定装置

特許　2010121416

2010年05月27日

特許分類: G01N 1/28
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

溶液試料の保持方法、試料セル、および円二色性の測定装置

特許　2010121416

2010年05月27日

特許分類: G01N 1/28 W
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

溶液試料の保持方法、試料セル、および円二色性の測定装置

特許　2010121416

2010年05月27日

特許分類: G01N 21/01
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

溶液試料の保持方法、試料セル、および円二色性の測定装置

特許　2010121416

2010年05月27日

特許分類: G01N 21/01 B
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

溶液試料の保持方法、試料セル、および円二色性の測定装置

特許　2010121416

2010年05月27日

特許分類: G01N 21/03
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

溶液試料の保持方法、試料セル、および円二色性の測定装置

特許　2010121416

2010年05月27日

特許分類: G01N 21/03 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

溶液試料の保持方法、試料セル、および円二色性の測定装置

特許　2010121416

2010年05月27日

特許分類: G01N 21/19
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

溶液試料の保持方法、試料セル、および円二色性の測定装置

特許　2010147439

2010年06月29日

特許分類: G01J 3/02
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

測定支援機能付きリアルタイム測定曲線表示型分析装置

特許　2010147439

2010年06月29日

特許分類: G01J 3/02 R
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

測定支援機能付きリアルタイム測定曲線表示型分析装置

特許　2010147439

2010年06月29日

特許分類: G01N 21/65
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

測定支援機能付きリアルタイム測定曲線表示型分析装置

特許　2010190514

2010年08月27日

特許分類: G01J 4/04
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置

特許　2010190514

2010年08月27日

特許分類: G01J 4/04 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置

特許　2010190514

2010年08月27日

特許分類: G01N 21/19
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置

特許　2010193217

2010年08月31日

特許分類: G01N 21/01
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

粉末試料の発光測定方法

特許　2010193217

2010年08月31日

特許分類: G01N 21/01 B
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

粉末試料の発光測定方法

特許　2010193217

2010年08月31日

特許分類: G01N 21/64
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

粉末試料の発光測定方法

特許　2010193217

2010年08月31日

特許分類: G01N 21/64 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G043

発明の名称

粉末試料の発光測定方法

特許　2010193549

2010年08月31日

特許分類: G01K 15/00
測定; 試験
テーマコード: 2F056

発明の名称

微量セルの温度校正方法

特許　2010193549

2010年08月31日

特許分類: G01N 21/27
測定; 試験
テーマコード: 2F056

発明の名称

微量セルの温度校正方法

特許　2010193549

2010年08月31日

特許分類: G01N 21/27 Z
測定; 試験
テーマコード: 2F056

発明の名称

微量セルの温度校正方法

特許　2010223802

2010年10月01日

特許分類: G01L 9/04
測定; 試験
テーマコード: 2F055

発明の名称

微小容量圧力計

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: F16K 31/02
機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: F16K 31/02 A
機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: F16K 31/06
機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: F16K 31/06 305Z
機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: F16K 37/00
機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: F16K 37/00 J
機械要素または単位；機械または装置の効果的機能を生じ維持するための一般的手段
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: G01N 30/02
測定; 試験
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: G01N 30/02 N
測定; 試験
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: G05D 16/20
制御; 調整
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2010236296

2010年10月21日

特許分類: G05D 16/20 A
制御; 調整
テーマコード: 5H316

発明の名称

超臨界流体用圧力制御装置

特許　2011067514

2011年03月25日

特許分類: G01J 3/45
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置及び円二色性測定方法

特許　2011067514

2011年03月25日

特許分類: G01J 4/04
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置及び円二色性測定方法

特許　2011067514

2011年03月25日

特許分類: G01J 4/04 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置及び円二色性測定方法

特許　2011067514

2011年03月25日

特許分類: G01N 21/19
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置及び円二色性測定方法

特許　2011067514

2011年03月25日

特許分類: G01N 21/35
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置及び円二色性測定方法

特許　2011067514

2011年03月25日

特許分類: G01N 21/35 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

円二色性測定装置及び円二色性測定方法

特許　2011106519

2011年05月11日

特許分類: G01N 30/02
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

クロマトグラフ用プログラム

特許　2011106519

2011年05月11日

特許分類: G01N 30/02 Z
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

クロマトグラフ用プログラム

特許　2011106519

2011年05月11日

特許分類: G01N 30/86
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

クロマトグラフ用プログラム

特許　2011106519

2011年05月11日

特許分類: G01N 30/86 D
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

クロマトグラフ用プログラム

特許　2011106519

2011年05月11日

特許分類: G01N 30/86 R
測定; 試験
テーマコード: 2G063

発明の名称

クロマトグラフ用プログラム

特許　2011127559

2011年06月07日

特許分類: G01J 3/10
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

省電力モード機能を備えた光学分析装置

特許　2011127559

2011年06月07日

特許分類: G01N 21/01
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

省電力モード機能を備えた光学分析装置

特許　2011127559

2011年06月07日

特許分類: G01N 21/01 D
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

省電力モード機能を備えた光学分析装置

特許　2011127559

2011年06月07日

特許分類: G01N 35/00
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

省電力モード機能を備えた光学分析装置

特許　2011127559

2011年06月07日

特許分類: G01N 35/00 E
測定; 試験
テーマコード: 2G059

発明の名称

省電力モード機能を備えた光学分析装置